反射率測(cè)量?jī)x

功能：

可精確測(cè)量目前分光光度計(jì)無法測(cè)量的微小、超薄、弧面樣品的光譜反射率，不會(huì)與樣品

背面的反射光產(chǎn)生干涉；是測(cè)量曲面反射率、鍍膜評(píng)價(jià)、微小部品的反射率測(cè)定系統(tǒng)；實(shí)

現(xiàn)非破壞性測(cè)量最佳方案。符合BS EN ISO 12132; GB 10810.4; QBT 2506 標(biāo)準(zhǔn)。

1.消除背面反射光

采用特殊光學(xué)系統(tǒng)，消除背面反射光。 不必進(jìn)行背面的防反射處理，可正確測(cè)定弧度鏡片表面的反射率。

2.可測(cè)定微小區(qū)域的反射率（消除曲面反射測(cè)試帶來的誤差）?

用物鏡對(duì)焦于樣本表面的微小光斑（?60 μm），可以測(cè)定鏡片曲面及鍍膜層是否均勻。

3.測(cè)定時(shí)間短?

由于使用了Flat Field Grating（平面光柵）和線傳感器的高速分光測(cè)光機(jī)構(gòu)，可以進(jìn)行快速、高重復(fù)性的測(cè)定。

4.支持XY色度圖、L*a*b*測(cè)定?

可以依據(jù)分光測(cè)色法，通過分光反射率測(cè)定物體顏色；比較色差。更真實(shí)反映材料主觀感受色彩。

5.綜合對(duì)比反射均勻度測(cè)量

提供6組數(shù)據(jù)對(duì)比，可在測(cè)試區(qū)域內(nèi)任意取點(diǎn)測(cè)量，分析鏡片各部分反射均勻性。