NIMO TEMPO人工晶狀體光學(xué)分析儀：是一款創(chuàng)新的干涉儀，適用于檢測復(fù)雜設(shè)計的衍射型人工晶體。

IRiS 光學(xué)相干斷層掃描儀：對人工晶狀體進行非接觸式檢測，可以提供全面的幾何測量參數(shù)。與現(xiàn)有的幾何檢測設(shè)備相比，它的檢測速度更快、更精確、信息量更大。

NIMO PMTF 人工晶狀體光學(xué)分析儀：用于折射型和衍射型人工晶狀體，針對性測量環(huán)曲面、多焦點、多焦環(huán)曲面人工晶狀體的實時MTF值和光焦度。

NIMO TR0815人工晶狀體光學(xué)分析儀: 測量任何類型的折射型人工晶體，無論是單焦點、散光、多焦點或多焦點散光

C-NIMO 人工晶狀體自動化光學(xué)分析儀：測量任何類型的折射型人工晶體，保持了NIMO TRO815相同的測量精度和光學(xué)性能，應(yīng)用于產(chǎn)線自動化檢測。

NIMO MATRIX人工晶狀體批量分析儀：批量檢測任何類型的人工晶體，無論是單焦點、散光、多焦點或多焦點，可同時檢測屈光度、MTF、尺寸和厚度。